Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀
簡(jiǎn)要描述：
Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀適于工廠(chǎng)高速柵格二維掃描測量平面類(lèi)零件，如線(xiàn)路板、手機外殼、模板等。封閉式結構，平面光源位于頂部機蓋，CCD變焦系統位于機器底部，快速聚焦于大玻璃工作臺表面，可同時(shí)測量位于工作臺表面各種不同類(lèi)型零件。
產(chǎn)品時(shí)間：2020-03-12
Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀適于工廠(chǎng)高速柵格二維掃描測量平面類(lèi)零件，如線(xiàn)路板、手機外殼、模板等。封閉式結構，平面光源位于頂部機蓋，CCD變焦系統位于機器底部，快速聚焦于大玻璃工作臺表面，可同時(shí)測量位于工作臺表面各種不同類(lèi)型零件。
Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀，在鋁型材行業(yè)有著(zhù)廣泛的應用，世界鋁型材企業(yè)都在使用。
作為測量?jì)x器，是當今世界上測量二維工件zui精確的二維掃描儀（申請中）.
主要特點(diǎn)：
◆ 高速的矩陣式掃描系統，適用于生產(chǎn)現場(chǎng)的二維測量
◆ 工業(yè)圖像處理系統，掃描規則的幾何元素及自由輪廓
◆ 被測工件可任意位置放置
◆ 模塊化的測量軟件
◆ 利用投射光和透射光進(jìn)行工件掃描
◆ 快捷方便的WinWerth評估軟件
◆ WinWerth軟件CAD在線(xiàn)和*公差擬合測量
◆ 平面光源
◆ 精度采用高標準雙邊標定
技術(shù)參數：
測量范圍（玻璃工作臺 尺寸）:
X = 400/650mm
Y = 200/400/600mm
zui大工件高度：Z = 100mm
光柵尺分辨率：0.1µm
測量機zui大允許誤差:
變焦:
1)E1: (2.5+L/120) µm
E2: (2.9+L/100) µm
固定鏡頭 0.4x:
2)E1: (4.9+L/100) µm
E2: (4.9+L/75) µm
固定鏡頭 0.2x:
2)E1: (9+L/100) µm
E2: (9+L/75) µm
1)20℃±2o Δ=1o/h 5X鏡頭 2)20℃±2度 Δ=1度/h
依據標準 ISO 10360 和 VDI/VDE 2617